這里是hs編碼9031410000對應商品制造半導體器件的檢測儀和器具(第90章其他品目未列名的,包括檢測光掩模及光柵用的)的歸屬分類詳細介紹頁面，包括其申報要素、海關監管條件、出口退稅率等信息，并提供申報實例參考。
9031410000 制造半導體器件的檢測儀和器具(第90章其他品目未列名的,包括檢測光掩模及光柵用的)
| 商品編碼 | 9031410000 | ||||
| 商品名稱 | 制造半導體器件的檢測儀和器具(第90章其他品目未列名的,包括檢測光掩模及光柵用的) | ||||
| 申報要素 | 0:品牌類型;1:出口享惠情況;2:用途;3:功能;4:品牌;5:型號;6:GTIN;7:CAS; | ||||
| 法定第一單位 | 臺 | 法定第二單位 | 無 | ||
| 最惠國進口稅率 | 0% | 普通進口稅率 | 17% | 暫定進口稅率 | - |
| 消費稅率 | - | 增值稅率 | 16% | ||
| 出口關稅率 | 0% | 出口退稅率 | 16% | ||
| 海關監管條件 | 無 | 檢驗檢疫類別 | 無 | ||
| 商品描述 | 1.太陽光模擬器；2.用光學裝置模擬太陽光，測試太陽能光伏組件的電性能參數，得到轉換效率功率等信息；3.通過模擬太陽能的照射，使太陽能電池板產生電流，并由設備自帶的電腦記錄以及安裝的軟件進行分析得出數據；4.無品牌；5.無型號 | ||||
| 英文名稱 | Other optical instruments and appliances For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices | ||||
所屬分類及章節
| 類目 | 第十八類 光學、照相、電影、計量、檢驗、療或外科用儀器及設備、精密儀器及設備；鐘表；樂器；上述物品的零件、附件 （90~92章） |
| 章節 | 第 九十 章 光學、照相、電影、計量、檢驗、醫療或外科用儀器及設備、精密儀器及設備；上述物品的零件、附件 |
申報實例匯總
| 商品編碼 | 商品名稱 |
| 9031410000 | 高低溫溫度控制測試機 |
| 9031410000 | 顆粒測試儀(舊)/檢測硅片表面顆粒情況 |
| 9031410000 | 顆粒度測試儀 |
| 9031410000 | 靜電卡盤 |
| 9031410000 | 集成電路測試器,可測得集成電路是否短路或斷路,NIDEC-READ |
| 9031410000 | 集成電路注入劑量檢測設備(舊)/監控注入機臺穩定性 |
| 9031410000 | 集成電路專用表面缺陷檢測儀（光學檢測） |
| 9031410000 | 降塵試驗箱 |
| 9031410000 | 陽光模擬器（太陽能組件IV測試） |
| 9031410000 | 間隙量測設備 |
| 9031410000 | 錫膏檢測儀 |
| 9031410000 | 錫膏檢查機（舊） |
| 9031410000 | 金線拉力測試儀 |
| 9031410000 | 量子效率測試儀(舊) |
| 9031410000 | 輪廓儀;測試物體表面的輪廓;測試表面顆粒高度及顆粒之間的間距;SENSOFAR-TECH,S.L. |
| 9031410000 | 超聲波斷層掃描儀 |
| 9031410000 | 超聲波影像檢查儀 |
| 9031410000 | 視覺測試儀 |
| 9031410000 | 表面缺陷檢測設備 |
| 9031410000 | 薄膜厚度測試系統 |
| 9031410000 | 蒸汽老化機 |
| 9031410000 | 熒光顯示屏陣列 |
| 9031410000 | 熒光顯示屏柵網 |
| 9031410000 | 芯片檢測機 |
| 9031410000 | 芯片檢查機WS896-AA |
| 9031410000 | 芯片檢查機FT1000-D |
| 9031410000 | 芯片分類機MS109-10-D4 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS109-10-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-3-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-20-B2 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-2-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-10-D2 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus-1-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus II-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機MS100Plus II-10-A2 |
| 9031410000 | 芯片分類機ES201-10-A1 |
| 9031410000 | 芯片分類機ES101-10-A1 |
| 9031410000 | 自動薄膜應力測量儀(舊)/測試晶圓表面薄厚應力 |
| 9031410000 | 自動芯片檢驗機,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用機器內置數字攝像機,拍攝得出WAFER表面圖片,用機內電腦與系統預設之標準圖片自行分析比對,判斷WAFER上是否有外形缺陷.同時設備內置光柵尺,利用傳感器讀取光柵尺位置信息,從而得出錫銀球所需量測尺寸. |
| 9031410000 | 自動晶粒分類挑揀機(舊) |
| 9031410000 | 自動晶圓測試機/Prober |
| 9031410000 | 自動外觀檢查裝置 |
| 9031410000 | 自動光學晶圓檢驗機;Camtek;IT行業,測量晶圓的劃傷、裂痕等表面狀態 |
| 9031410000 | 膜厚測量儀S3000SX |
| 9031410000 | 膜厚測試儀（舊）/測量晶圓表面膜厚 |
| 9031410000 | 膜厚測試儀(舊)/測量晶圓表面膠膜膜厚 |
| 9031410000 | 膜厚測試儀 |
| 9031410000 | 缺陷測試設備 |
| 9031410000 | 編碼器光柵 |
| 9031410000 | 終端機卡接口測試儀 |
| 9031410000 | 終點檢測系統/型號:SP2100 |
| 9031410000 | 終點檢測系統 |
| 9031410000 | 紅外回流掃描儀,品牌SONIX,檢查集成電器元器件內部是否有分層,功能:非破壞性檢驗 |
| 9031410000 | 穩定度測試儀(舊) |
| 9031410000 | 移動終端智能卡接口單線協議測試儀 |
| 9031410000 | 科磊表面掃描儀(舊) |
| 9031410000 | 離線EL測試儀 |
| 9031410000 | 硅片顆粒掃描儀(舊) |
| 9031410000 | 硅片顆粒分析儀(舊) |
| 9031410000 | 硅片表面缺陷檢查儀(舊) |
| 9031410000 | 硅片表面缺陷光學檢查儀(舊) |
| 9031410000 | 硅片膜厚測試儀(舊) |
| 9031410000 | 硅片厚度測試儀 |
| 9031410000 | 硅片幾何參數測試儀 |
| 9031410000 | 硅晶片檢測儀 |
| 9031410000 | 電路板半導體器件光學檢測儀 |
| 9031410000 | 電子產品用檢查設備 |
| 9031410000 | 激光型橢偏儀 |
| 9031410000 | 激光器芯片老化測試裝置用測試箱 |
| 9031410000 | 激光器芯片老化測試裝置(八成新) |
| 9031410000 | 激光器芯片窄脈沖測試儀 |
| 9031410000 | 測試機(舊),用于測試集成電路,CREDENCE牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:QUARTET ONE,技術參數:220V等,有測試結果顯示,顯示集成電路好壞指標 |
| 9031410000 | 測試機(舊),用于測試集成電路,AGILENT牌,采用微電子原理,測試集成電路好壞,集成電路,型號:E6978B,技術參數:220V等,有測試結果顯示,顯示集成電路好壞指標 |
| 9031410000 | 測試機(修理費) |
| 9031410000 | 測試儀 |
| 9031410000 | 泵浦激光器老化測試裝置用卡條 |
| 9031410000 | 水平儀 |
| 9031410000 | 模組電致發光檢查設備 |
| 9031410000 | 檢測芯片光功率用檢測儀 |
| 9031410000 | 檢測器框架 |
| 9031410000 | 檢測器 |
| 9031410000 | 檢測儀 |
| 9031410000 | 極間距測量裝置 |
| 9031410000 | 晶片角度測量儀,用于半導體薄膜厚度測量系統,品牌NANO |
| 9031410000 | 晶片厚度測試儀（舊） |
| 9031410000 | 晶格圖像檢測機 |
| 9031410000 | 晶圓顆粒檢測儀（舊） |
| 9031410000 | 晶圓表面金屬膜厚度檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓表面金屬污染檢測儀 |
| 9031410000 | 晶圓表面膜層檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓表面膜厚檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓表面膜厚檢測儀（舊，光學檢測） |
| 9031410000 | 晶圓表面膜厚和離子濃度檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓表面缺陷檢測裝置（舊，光學檢測） |
| 9031410000 | 晶圓表面缺陷檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓表面圖形區對中檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓缺陷檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓缺陷檢測機 |
| 9031410000 | 晶圓縮微檢查顯微鏡（舊） |
| 9031410000 | 晶圓縮微檢查顯微鏡(舊,2003年產) |
| 9031410000 | 晶圓離子注入監視檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓校準裝置 |
| 9031410000 | 晶圓截面檢測裝置 |
| 9031410000 | 晶圓外觀目檢挑除機(舊) |
| 9031410000 | 晶圓外觀檢測挑除機(舊) |
| 9031410000 | 晶圓厚度綜合測試儀 |
| 9031410000 | 晶體阻抗計 |
| 9031410000 | 晶體測試機 |
| 9031410000 | 舊芯片翹曲度測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊芯片微粒測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊離子測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊硅片膜厚測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊硅片濃度測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊硅片厚膜測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊校平測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 舊微粒測試儀/六成新 |
| 9031410000 | 舊帆宣自動光學缺陷分類機 |
| 9031410000 | 舊半導體器件用測試機修理費 |
| 9031410000 | 舊半導體器件用測試機 |
| 9031410000 | 舊BUMP測試儀/七成新 |
| 9031410000 | 斜角/凸面晶片3-D形狀分析系統 |
| 9031410000 | 接觸式表面平整度檢測裝置 |
| 9031410000 | 探針測試儀(舊) |
| 9031410000 | 探針臺/無品牌 |
| 9031410000 | 投影量測儀 |
| 9031410000 | 打孔檢查機/用于檢查線路板打孔 |
| 9031410000 | 快速檢測儀（檢測半導體器件） |
| 9031410000 | 微顆粒光學檢測儀 |
| 9031410000 | 平整度測試儀 |
| 9031410000 | 島津紅外半導體檢測儀 |
| 9031410000 | 少子壽命測試儀(舊) |
| 9031410000 | 套刻精度測試機 |
| 9031410000 | 套準量測儀（舊） |
| 9031410000 | 太陽能組件測試儀BXM-2012SA |
| 9031410000 | 太陽能組件測試儀 |
| 9031410000 | 太陽能電池顏色分類系統 |
| 9031410000 | 太陽能電池片表面瑕疵檢測儀(舊) |
| 9031410000 | 太陽能電池片測試儀 |
| 9031410000 | 太陽能電池效能測試儀/舊 |
| 9031410000 | 太陽能電池QE/IPCE測試系統 |
| 9031410000 | 太陽光模擬器 |
| 9031410000 | 多晶硅電池片分色檢驗儀 |
| 9031410000 | 多功能晶片檢測系統 |
| 9031410000 | 外觀檢測系統-檢測晶體管外觀 |
| 9031410000 | 外觀檢查機/用于檢查線路板成品 |
| 9031410000 | 在線光學檢查儀 |
| 9031410000 | 噪音測試儀 |
| 9031410000 | 可焊性測試機 |
| 9031410000 | 疊層對準檢測裝置 |
| 9031410000 | 疊對量測儀（舊，光學檢測） |
| 9031410000 | 變焦光學系統 |
| 9031410000 | 厚度量測儀 |
| 9031410000 | 半自動裸晶測試機 |
| 9031410000 | 半導體顆粒測試儀（舊） |
| 9031410000 | 半導體設備用函數發生器 |
| 9031410000 | 半導體膜厚測量儀（舊） |
| 9031410000 | 半導體硅片檢查儀（舊） |
| 9031410000 | 半導體硅片檢查儀(舊) |
| 9031410000 | 半導體硅片檢查儀 |
| 9031410000 | 半導體用缺陷檢查儀/舊 |
| 9031410000 | 半導體用微波檢測儀 |
| 9031410000 | 半導體測試機組件 |
| 9031410000 | 半導體測試機(舊) |
| 9031410000 | 半導體檢測設備 |
| 9031410000 | 半導體檢測儀（舊） |
| 9031410000 | 半導體檢查裝置 |
| 9031410000 | 半導體晶片光學檢測儀(舊) |
| 9031410000 | 半導體晶圓檢測儀器(舊) |
| 9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機（舊） |
| 9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機(舊) |
| 9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機 （舊） |
| 9031410000 | 半導體晶圓檢查測量機 （舊） |
| 9031410000 | 半導體器件測試機, |
| 9031410000 | 半導體器件檢測儀 |
| 9031410000 | 半導體器件器具 |
| 9031410000 | 半導體器件功率循環測試機 |
| 9031410000 | 半導體加工測試機 |
| 9031410000 | 半導體加工測試儀 |
| 9031410000 | 制造半導體器件的檢測器具 |
| 9031410000 | 制造半導體器件的檢測儀和器具 |
| 9031410000 | 制造半導體器件的檢測儀 |
| 9031410000 | 全自動高溫晶圓應力檢測裝置 |
| 9031410000 | 全自動表貼LED分類系統/SLS200C |
| 9031410000 | 全自動芯片掃描檢查系統 |
| 9031410000 | 全自動檢測機 |
| 9031410000 | 全自動晶粒挑揀機 |
| 9031410000 | 全自動外觀檢查機 |
| 9031410000 | 全尺寸光伏組件電致發光成像儀[舊] |
| 9031410000 | 光致發光硅片測試儀 |
| 9031410000 | 光致發光測試儀 |
| 9031410000 | 光罩表面缺陷檢測裝置 |
| 9031410000 | 光罩缺陷檢測機（舊，光學檢測） |
| 9031410000 | 光電開關用檢測器具 |
| 9031410000 | 光柵尺 |
| 9031410000 | 光柵 |
| 9031410000 | 光掩膜版位置精度測量機 |
| 9031410000 | 光學表面形貌測量儀 |
| 9031410000 | 光學測試治具 |
| 9031410000 | 光學宏觀缺陷掃描儀主機F30 |
| 9031410000 | 光學厚度量測儀 |
| 9031410000 | 亮度測試機(維修費) |
| 9031410000 | 亮度測試機 |
| 9031410000 | 三維管腳檢測儀(舊) |
| 9031410000 | 三極管測試機 |
| 9031410000 | 三光檢查系統 |
| 9031410000 | VITROX外觀檢測系統VT-LP2000T |
| 9031410000 | TOPAS全處理過程分析系統/針對各元器件及發光二極管 |
| 9031410000 | PSS測試系統 |
| 9031410000 | PCB測試設備 |
| 9031410000 | LW1000自動耦光系統 |
| 9031410000 | LED測試機 |
| 9031410000 | LED全自動高速測速機 |
| 9031410000 | LED全自動高速測試機/舊 |
| 9031410000 | LED全自動高速測試機 |
| 9031410000 | LED亮度測試機(維修費) |
| 9031410000 | LD測試裝置 |
| 9031410000 | KEYENCE晶體管外觀檢測系統 |
| 9031410000 | DVD光學頭評價機/PULSTEC |
| 9031410000 | DVD光學頭參數測量調整儀/PULSTE |
| 9031410000 | DVD光學頭參數測量調整儀 |
| 9031410000 | CCD攝像機(光學檢測模組) |
| 9031410000 | CCD影像機（光學檢測模組） |
| 9031410000 | 3D光學輪廓儀 |
| 9031410000 | 2A級太陽光模擬器及I-V測試系統 |
